| 序号 | 标准编号 | 标准名称 | 发布日期 | 实施日期 | 状态 |
|---|---|---|---|---|---|
| 1 | GB/T 22319.9-2018 | 石英晶体元件参数的测量 第9部分：石英晶体元件寄生谐振的测量 | 2018-03-15 | 2018-10-01 | |
| 2 | GB/T 22319.11-2018 | 石英晶体元件参数的测量 第11部分：采用自动网络分析技术和误差校正确定负载谐振频率和有效负载电容的标准方法 | 2018-03-15 | 2018-10-01 | |
| 3 | GB/T 22319.7-2015 | 石英晶体元件参数的测量 第7部分：石英晶体元件活性跳变的测量 | 2015-06-02 | 2016-02-01 | |
| 4 | GB/T 12273.1-2017 | 有质量评定的石英晶体元件 第1部分:总规范 | 2017-05-31 | 2017-12-01 | |
| 5 | GB/T 15156-2015 | 压电陶瓷换能元件总规范 | 2015-06-02 | 2016-02-01 | |
| 6 | GB/T 30118-2013 | 声表面波（SAW）器件用单晶晶片规范与测量方法 | 2013-12-17 | 2014-05-15 | |
| 7 | GB/T 12859.1-2012 | 电子元器件质量评定体系规范 压电陶瓷谐振器 第1部分：总规范- 鉴定批准 | 2012-11-05 | 2013-02-15 | |
| 8 | GB/T 9532-2012 | 压电单晶材料型号命名方法 | 2012-11-05 | 2013-02-15 | |
| 9 | GB/T 12859.201-2012 | 电子元器件质量评定体系规范 压电陶瓷谐振器 第2-1部分：空白详细规范-评定水平E | 2012-11-05 | 2013-02-15 | |
| 10 | GB/T 12273.501-2012 | 石英晶体元件 电子元器件质量评定体系规范 第5.1部分：空白详细规范 鉴定批准 | 2012-11-05 | 2013-02-15 | |
| 11 | GB/T 12274.1-2012 | 有质量评定的石英晶体振荡器 第1部分：总规范 | 2012-11-05 | 2013-02-15 | |
| 12 | GB/T 3352-2012 | 人造石英晶体 规范与使用指南 | 2012-11-05 | 2013-02-15 | |
| 13 | GB/T 12859.2-2012 | 电子元器件质量评定体系规范 压电陶瓷谐振器 第2部分：分规范- 鉴定批准 | 2012-11-05 | 2013-02-15 | |
| 14 | GB/T 27700.1-2011 | 有质量评定的声表面波（SAW）滤波器 第1部分：总规范 | 2011-12-30 | 2012-05-01 | |
| 15 | GB/T 27700.2-2011 | 有质量评定的声表面波（SAW）滤波器 第2部分：使用指南 | 2011-12-30 | 2012-05-01 | |
| 16 | GB/T 8553-1987 | 晶体盒总规范 | 1987-12-31 | 1988-06-01 | |
| 17 | GB/T 9532-1988 | 铌酸锂、钽酸锂、锗酸铋、硅酸铋压电单晶材料型号命名方法 | 1988-06-28 | 1989-02-01 | |
| 18 | GB/T 11114-1989 | 人造石英晶体位错的X 射线形貌检测方法 | 1989-03-31 | 1990-03-01 | |
| 19 | GB/T 6429-1986 | 石英谐振器型号命名方法 | 1986-05-27 | 1987-05-01 | |
| 20 | GB/T 6628-1996 | 人造石英晶体制材 | 1996-09-09 | 1997-05-01 |