您的位置: 首页 国家标准 半导体器件 集成电路 第21-1部分:膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范(采用鉴定批准程序)
标准简介
半导体器件 集成电路 第21-1部分:膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范(采用鉴定批准程序)
Semiconductor devices—Integrated circuits—Part 21-1:Blank detail specification for film integrated circuits and hybrid film integrated circuits on the basis of the qualification approval procedures
国家标准《半导体器件 集成电路 第21-1部分:膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范(采用鉴定批准程序)》TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口上报及执行,主管部门为工业和信息化部(电子)

主要起草单位 中国电子科技集团公司第四十三研究所、中国电子技术标准化研究院

主要起草人 冯玲玲、陈裕焜、雷剑、王琪、王婷婷、管松林
基础信息
  • 标准号: GB/T 13062-2018
  • 发布日期: 2018-12-28
  • 实施日期: 2019-07-01
  • 中国标准分类号: L57
  • 中国标准分类号: 31.200
  • 归口单位: 全国半导体器件标准化技术委员会
  • 主管部门: 工业和信息化部(电子)
起草单位
中国电子科技集团公司第四十三研究所
中国电子技术标准化研究院
起草人
冯玲玲
陈裕焜
雷剑
王琪
王婷婷
管松林