您的位置： 首页 行业标准 ＰＩＮ、雪崩光电二极管测试方法
目录
标准简介
ＰＩＮ、雪崩光电二极管测试方法
Measuring methods for photodiodes of PIN、APD
标准状态
基础信息
  • 标准号： SJ/T 2354-2015
  • 发布日期： 2015/4/30
  • 实施日期： 42278
  • 中国标准分类号： L54
  • 中国标准分类号： 31.18
  • 归口单位： 工业和信息化部电子工业标准化研究院(cesi)
  • 主管部门： 工业和信息化部（电子）
起草单位
中国电子科技集团公司第四十四研究所
起草人